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蔡司 Sigma系列場發射掃描電子顯微鏡 參考價：面議
蔡司 Sigma系列場發射掃描電子顯微鏡性價比高。Sigma 500 裝配有背散射幾何探測器，可快速方便地實現基礎分析。任何時間，任何樣品均可獲得精準可重復的分...
蔡司 EVO系列掃描電子顯微鏡 參考價：面議
蔡司 EVO系列掃描電子顯微鏡將高性能的掃描電鏡和直觀的、友好的用戶界面體驗結合在一起， 同時能夠吸引經驗豐富的用戶以及新用戶。無論是在生命科學， 材料科學， ...
蔡司 GeminiSEM系列場發射掃描電子顯微鏡 參考價：面議
蔡司 GeminiSEM系列場發射掃描電子顯微鏡一直是高分辨力與寬樣品適用性的代名詞。無論您從事的研究方向是什么，GeminiSEM都可以滿足您的需求。創新的電...
蔡司離子束顯微鏡ORION NanoFab 參考價：面議
蔡司離子束顯微鏡ORION NanoFab集鎵、氖、氦三種離子束于一身，是能實現從微米到納米微加工的成像加工系統。
蔡司雙束電鏡Crossbeam系列(FIB-SEM) 參考價：面議
蔡司雙束電鏡Crossbeam系列(FIB-SEM)結合了高分辨率場發射掃描電鏡（FE-SEM）的出色成像和分析性能，以及新一代聚焦離子束（FIB）的優異加工能...
原位拉伸-掃描電鏡 參考價：面議
ZEM15原位拉伸掃描電鏡基于自主研發的臺式掃描電鏡，集成原位拉伸樣品臺，對樣品進行原位拉伸/壓縮/彎曲的過程中實時觀察樣品表面形貌的變化產品介紹ZEM15原位...
PicoFemto掃描電鏡原位氣氛加熱環境測量 參考價：面議
PicoFemto掃描電鏡原位氣氛加熱環境測量系統，將MEMS氣氛環境微腔和加熱模塊集成到掃描電鏡樣品臺上，在掃描電鏡中制造可控的氣氛環境并且可以對實驗樣品原位...
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM低溫電學測量 參考價：面議
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM低溫電學測量系統,是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量
澤攸ZEM15臺式掃描電鏡能譜一體機 參考價：面議
澤攸ZEM15臺式掃描電鏡能譜一體機采用自主研發的鎢燈絲電子槍，加速電壓在1-15kV范圍內連續可調，搭配二次電子探測器、背散射電子探測器、集成式oxford能...
澤攸ZEM15原位拉伸-掃描電鏡 參考價：面議
澤攸ZEM15原位拉伸-掃描電鏡基于自主研發的臺式掃描電鏡，集成原位拉伸樣品臺，對樣品進行原位拉伸/壓縮/彎曲的過程中實時觀察樣品表面形貌的變化
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